描述
关键技术规格
| 参数项 | 参数值 |
|---|---|
| 完整型号 | FP-TB-1 |
| 所属系统 | NI FieldPoint 分布式 I/O 采集系统 |
| 安装方式 | DIN35mm 导轨安装 |
| 接线方式 | 螺钉压紧式端子，支持多股屏蔽线缆 |
| 适配模块 | FP 系列 I/O 模块（FP-AI、FP-AO、FP-DI、FP-DO 等） |
| 供电接入 | 通过底座向 I/O 模块提供 24VDC 供电 |
| 工作温度 | -40℃ ~ +70℃ |
| 防护等级 | IP20（控制柜内使用） |
| 总线接口 | 内置 FieldPoint 背板总线，模块热插拔 |
| 认证 | CE、UL 认证 |
| MTBF | ＞85,000 小时（原厂手册参考值） |
| 产品状态 | 原厂停产，原厂维保终止，仅存量备件 |
FP-TB-1
产品深度介绍
NI FP-TB-1 是 FieldPoint 分布式 I/O 系统的通用端子底座，作为 FP 系列 I/O 采集模块的承载基座，集成现场信号接线端子与 FieldPoint 内部背板总线。现场传感器、执行器线缆接入 FP-TB-1 螺钉端子，上方插接 FP 系列 I/O 采集模块，完成信号采集与控制输出。
底座自带背板总线，支持模块热插拔，更换 I/O 卡件无需拆除现场接线。多用于 LabVIEW 测控项目，是老设备分布式数据采集的核心基座。新项目一般选用 cDAQ/cRIO 平台，FP-TB-1 仅用于存量 FieldPoint 设备维护备件替换。
应用场景与行业案例
很多使用 LabVIEW 老测控设备的工程师都遇到这个麻烦：FP-TB-1 端子底座铜片氧化、端子螺纹滑牙，导致模拟量信号漂移、DI 信号间歇性跳变。I/O 模块本身完好，但底座故障，整套采集回路异常，普通端子排不能直接替代。
典型应用场景:
- 半导体设备 – 老机台分布式信号采集 晶圆检测设备压力、温度传感器接入，通过 FieldPoint 上传信号至 LabVIEW 上位机。
- 材料力学实验室 – 疲劳试验机测控 应力、位移传感器信号接入，长时间连续采集试验数据。
- 汽车测试台架 – 零部件耐久测试系统 电磁阀、压力传感器分布式 I/O 采集，执行闭环测试逻辑。
- 能源测试 – 电池性能测试工装 电压、温度多点采集，由 LabVIEW 记录测试曲线。
- 航空测试 – 机载部件地面测试系统 多通道分布式信号采集，适配老款 FieldPoint 测控架构。
案例：某材料实验室试验机备件更换 前年，华南某材料实验室的疲劳试验机 FieldPoint 采集系统，FP-TB-1 端子座内部铜件氧化，应力信号持续漂移，试验数据无法采信。NI 原厂早已停产该型号，无新件排产。
试验机是重点试验设备，停机就无法承接材料检测课题。客户找到我们，仓库有存量 FP-TB-1 备件，完成接线导通、背板总线通讯全套测试，出具测试报告。
利用周末停机窗口，工程师更换端子底座，重新压接传感器线缆，全部采集通道信号稳定，试验机恢复正常采集。后续实验室采购 2 块 FP-TB-1 作为备用基座，规避停产备件断供风险。
