描述
关键技术规格
| 参数项 | 技术指标 |
|---|---|
| 时间分辨率 | 100 ps（LSB） |
| 测量范围 | ±10 s（最大时间间隔） |
| 采样速率 | 80 MSa/s（实时流模式） |
| 通道数 | 2 路独立输入通道 |
| 输入阻抗 | 50Ω（标准射频阻抗） |
| 输入灵敏度 | 200 mV 峰峰值 |
| 触发方式 | 边沿、窗口、脉宽触发 |
| 测量缓存 | 512 K 点 |
| 通信接口 | VXI 总线、SCPI 指令集 |
| 工作温度 | -10°C～+60°C |
| 尺寸 | VXI C 尺寸，双槽位 |
| 重量 | 约 1.2 kg |
产品深度介绍
Keysight E1740A 是原惠普（HP）/ 安捷伦（Agilent）推出的 C 尺寸双槽 VXI 总线时间间隔分析仪模块，现为是德科技（Keysight）旗下停产型号，是 E1725C 测试系统的核心组件。该模块专为亚纳秒级高精度时序测量设计，可精准捕获高速信号的时间参数，在电子测试领域应用广泛。
E1740A 集成双通道独立输入与 DSP 硬件加速，具备 100ps 超高分辨率和 80MSa/s 高速采样能力，支持时间间隔、频率、相位、抖动等多维度测量。它兼容 SCPI 协议，可通过 VXI 总线实现自动化测试编程，512K 板载缓存满足长时间数据记录需求，是高速数字、通信、雷达等场景的时序测试核心设备。
应用场景与行业案例
工程痛点描述
高速数字系统、通信设备、雷达及精密时钟系统研发与量产中，亚纳秒级时序误差会导致数据传输错误、同步失效、设备稳定性下降。传统测试仪器分辨率不足，无法精准捕捉 ps 级抖动与相位偏差，难以定位时序问题根源，导致研发周期延长、产品良率降低。
典型应用场景
- 电信设备测试 – SONET/SDH 同步分析用于光通信设备的时钟抖动、信号相位偏差测量，保障网络同步精度，避免数据传输丢包。
- 半导体设计验证 – 高速数字电路时序测试验证 FPGA、CPU 等高速芯片的时序裕量，检测信号传输延迟与抖动，规避时序违规风险。
- 数据存储设备 – 硬盘读写时序分析测量磁盘驱动器读写信号的时间间隔与抖动，优化存储性能，提升数据读写稳定性。
- 雷达与航天 – 脉冲信号时序同步精准测量雷达脉冲信号的间隔与同步时序，保障雷达定位精度与航天设备时序一致性。
- 精密时钟系统 – PLL/VCO 特性表征分析锁相环、压控振荡器的频率稳定性与相位噪声，为高精度时钟设计提供数据支撑。
真实案例
去年，国内某通信设备厂商研发 40G 光传输模块时，遇到信号同步抖动超标问题，常规示波器无法精准捕捉 ps 级抖动细节，项目停滞 2 周。
团队采购 1 台原装拆机 Keysight E1740A，接入 VXI 测试系统后，利用其 100ps 分辨率精准测量信号时序，快速定位到时钟分配链路的相位偏差问题。通过调整 PCB 布线与阻抗匹配，3 天内解决抖动超标问题，模块顺利量产，避免了研发延期损失。
