描述
关键技术规格
| 参数项 | 规格值 |
|---|---|
| 型号 | A404K |
| 传感器类型 | CMOS（黑白） |
| 分辨率 | 2352 × 1726 像素（4MP） |
| 像素尺寸 | 3.45 × 3.45 µm |
| 帧率 | 96 fps（4-tap）；48 fps（8-tap） |
| 接口 | Camera Link（标准） |
| 镜头接口 | C 接口 |
| 动态范围 | 54 dB |
| 供电 | 12 VDC |
| 功耗 | 约 6 W |
| 工作温度 | 0°C ~ +50°C |
| 尺寸（长 × 宽 × 高） | 65 mm × 65 mm × 42 mm |
| 重量 | 约 220 g |
产品深度介绍
BASLER A404K 是德国巴斯勒 A400 系列的高速 400 万像素黑白面阵工业相机，专为高要求机器视觉场景设计。搭载高精度 CMOS 传感器，分辨率达 2352×1726，4-tap 模式下帧率高达 96fps，兼顾高分辨率与高速采集能力。
采用 Camera Link 高速接口，确保大数据量稳定传输；具备 54dB 动态范围与低噪声设计，弱光环境下仍能输出清晰图像。支持多种触发与曝光控制模式，适配自动化产线、高速检测等复杂工况。
应用场景与行业案例
工程痛点
高速精密检测场景中，普通相机难以同时满足高分辨率与高帧率需求，易出现拖影、模糊，影响检测精度。
典型应用场景
- 电子制造 – PCB 检测用于印刷电路板线路、焊盘、焊点缺陷高速检测，高分辨率捕捉微小瑕疵。
- 汽车零部件 – 尺寸 / 外观检测汽配冲压件、注塑件表面划痕、毛刺、尺寸偏差高速在线检测。
- 印刷行业 – 标签 / 薄膜检测高速印刷生产线的套印偏差、漏印、污点检测，适配高速走料场景。
- 半导体 – 晶圆 / 芯片检测晶圆表面缺陷、芯片引脚共面性高精度检测，满足洁净室环境要求。
真实案例
2025 年 9 月，华南某电子厂 PCB 产线升级，原相机分辨率不足，微小焊盘缺陷漏检率高。更换 A404K 后，96fps 高速采集配合 400 万像素，漏检率降至 0.1% 以下，产能提升 20%，设备稳定性显著提高。
核心卖点与差异化
- 400 万像素 + 96fps，同级别中兼顾分辨率与速度，适配高速精密检测
- Camera Link 高速接口，稳定传输高清图像，降低数据丢包风险
- 54dB 高动态范围 + 低噪声，弱光 / 复杂光照环境成像清晰，减少补光成本
- 紧凑型金属外壳，抗振动、抗干扰，适配工业恶劣环境
