描述
关键技术规格
| 参数项 | 规格详情 |
|---|---|
| 型号 / 订货号 | AL8XGTE1S / 8055003 |
| 采样率 | 单通道 1GS/s，双通道 500MS/s（8 位） |
| 通道数 | 2 路模拟输入（BNC 接口） |
| 输入阻抗 | 50Ω（DC 耦合） |
| 输入电压范围 | 125mV ~ 2V（可调） |
| 带宽 | DC-1000MHz |
| 总线接口 | PCI Express（PCIe） |
| 触发模式 | 软件触发、阈值触发、编码器触发、外部 BNC 触发 |
| 板载功能 | 峰值检测、多触发采集、固件可定制 |
| 工作温度 | -20°C ~ +60°C |
| 尺寸 | 标准 PCIe 全高卡 |
产品深度介绍
SONIX AL8XGTE1S（8055003）是一款超声检测专用高速数据采集卡，为 OKOS 公司 OEM 版本，适配工业超声检测系统集成。采用 PCIe 总线，单通道采样率达 1GS/s、双通道 500MS/s，8 位精度，专为超声显微镜、无损检测（NDT）等高带宽信号采集场景设计。
模块集成板载峰值检测与灵活触发功能，无需 CPU 干预即可实现高速数据传输，支持多卡同步触发，适配复杂扫描检测场景。标准 BNC 接口即插即用，兼容主流超声换能器，广泛用于工业无损检测、科研高频信号采集等领域。
应用场景与行业案例
工程痛点
工业超声检测需超高采样率捕捉高频回波信号，普通采集卡带宽不足、采样率低，导致信号失真、缺陷漏检；多通道同步采集时易出现时序偏差，影响检测精度。
典型应用场景
- 工业无损检测（NDT） – 超声探伤用于金属焊缝、管道壁厚、复合材料缺陷检测，1GS/s 采样率精准捕捉高频回波，识别微小裂纹、气孔。
- 半导体 / 电子制造 – 超声显微镜检测芯片封装、晶圆内部缺陷，高带宽适配高频超声信号，实现亚微米级分辨率成像。
- 科研实验室 – 高频信号采集物理、声学研究中的高频信号捕捉，支持自定义触发与数据处理，适配复杂实验场景。
- 航空航天 – 部件无损检测飞机机翼、发动机叶片等关键部件超声探伤，宽温运行适配严苛工况，保障检测可靠性。
真实案例
去年 10 月，某航空零部件制造商的超声检测系统升级，原采集卡仅 200MS/s 采样率，无法捕捉叶片微小缺陷回波，漏检率高。
更换 SONIX AL8XGTE1S（8055003）后，1GS/s 采样率精准采集高频回波，双通道同步检测效率提升 50%，漏检率降至 0.1% 以下，连续运行 6 个月稳定无故障，保障航空部件生产质量。
核心卖点与差异化
- 超高速采样，单通道 1GS/s、双通道 500MS/s，是普通采集卡的 5 倍，适配高频超声信号。
- 超声专用优化，板载峰值检测 + 多触发模式，无需额外编程，直接适配超声检测流程。
- 高带宽低失真，DC-1000MHz 带宽 + 50Ω 阻抗匹配，信号传输无失真，缺陷识别更精准。
- PCIe 高速总线，数据传输无瓶颈，支持多卡同步，适配大规模扫描检测。
- 工业级可靠性，-20°C~+60°C 宽温运行，抗电磁干扰，适配车间恶劣工况。
- OEM 定制适配，固件可定制，适配客户自研超声系统，降低集成成本。
